Resultados para “'refletividade'”

Maria José Oliveira Da Silva Bezerra

tecnico IFRN - Campus João Câmara

Possui graduação em Química pela Universidade Federal do Rio Grande do Norte (2004), graduação em Psicologia pela Universidade Federal do Rio Grande do Norte (2018) e mestrado em Química pela Universidade Federal do Rio Grande do Norte (2006). Atualmente é técnica em assuntos educacionais do Instituto Federal de Educação, Ciência e Tecnologia do Rio Grande do Norte. Tem experiência na área de Química, com ênfase em Química de Interfaces, atuando principalmente nos seguintes temas: método pechini, espinélio, método dos citratos precursores, titanato de zircônio e ferrita mn-zn.

Joseane Mercia Da Rocha Pimentel Gonçalves

tecnico IFSP - Campus São José dos Campos

Graduada em Química pela Universidade Federal de Alagoas (1999) e Mestre em Ciências na Área de Engenharia Aeronáutica/ Química dos Materiais. Atualmente é Gerente de Administração do Instituto Federal de Educação, Ciência e Tecnologia de São Paulo - Campus São José dos Campos/Petrobrás. Tem experiência na área de pesquisa e ensino de Química. E na área de administração na Gestão de Pessoas, Contratos e Licitações e Planejamento Orçamentário.

Jefferson Suela

docente IFMG - Campus Congonhas

Possui graduação em Física (2004) e mestrado em Física Aplicada (2007) pela Universidade Federal de Viçosa (UFV) e doutorado em Engenharia e Tecnologia Espaciais (2013) pelo Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE). Atualmente é Professor de Física no Campus Congonhas do Instituto Federal de Educação Ciência e Tecnologia de Minas Gerais (IFMG-Congonhas). Tem experiência na área de Física da Matéria Condensada com ênfase em Materiais e Dispositivos Semicondutores, atuando principalmente nos seguintes temas: Crescimento epitaxial por MBE e HWE; Caracterização estrutural de filmes finos e pontos quânticos semicondutores por difração de raios X (convencional e Síncrotron); Microscopia de Força Atômica (AFM); Reflectometria de raios X de alta resolução; Processos de microfabricação por fotolitografia óptica; Caracterização elétrica de filmes e dispositivos semicondutores.